Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(45)
Bhushan, Bharat. editor.
(5)
Fuchs, Harald. editor.
(3)
Ayache, Jeanne. author.
(2)
Beaunier, Luc. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
45 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications için kapak resmi
Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications
Yazar 
Zhou, Weilie. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube-Clamped Metal Atomic Chains için kapak resmi
In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube-Clamped Metal Atomic Chains
Yazar 
Tang, Dai-Ming. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334395.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-37259-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333137.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25414-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces için kapak resmi
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Yazar 
Sadewasser, Sascha. editor. Glatzel, Thilo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22566-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Yazar 
Kalinin, Sergei V. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7167-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Coherent Light Microscopy Imaging and Quantitative Phase Analysis için kapak resmi
Coherent Light Microscopy Imaging and Quantitative Phase Analysis
Yazar 
Ferraro, Pietro. editor. Wax, Adam. editor. Zalevsky, Zeev. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15813-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10497-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Techniques için kapak resmi
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Techniques
Yazar 
Ayache, Jeanne. author. Beaunier, Luc. author. Boumendil, Jacqueline. author. Ehret, Gabrielle. author. Laub, Danièle. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5975-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology için kapak resmi
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology
Yazar 
Ayache, Jeanne. author. Beaunier, Luc. author. Boumendil, Jacqueline. author. Ehret, Gabrielle. author. Laub, Danièle. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science
Yazar 
Williams, David B. author. Carter, C. Barry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: