Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Digital integrated circuits -- Testing.
(4)
Electronic books.
(4)
Integrated circuits--Testing.
(4)
Application-specific integrated circuits.
(3)
Integrated circuits -- Testing.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Low-power HF Microelectronics A unified approach için kapak resmi
Low-power HF Microelectronics A unified approach
Yazar 
Machado, Gerson A. S., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS008E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Principles of semiconductor network testing için kapak resmi
Principles of semiconductor network testing
Yazar 
Afshar, Amir.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI
Yazar 
Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation için kapak resmi
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
Yazar 
Heyman, Joseph S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: