Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Chakrabarty, Krishnendu. author.
(3)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Calinescu, Radu. editor.
(2)
Dahlman, Ola. author.
(2)
Duan, Zhenhua. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(28)
Systems engineering.
(22)
Electronics.
(17)
Computer science.
(16)
Computer hardware.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
189 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Linear Models for Optimal Test Design için kapak resmi
Linear Models for Optimal Test Design
Yazar 
Linden, Wim J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29054-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects için kapak resmi
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Design Driven Testing Test Smarter, Not Harder için kapak resmi
Design Driven Testing Test Smarter, Not Harder
Yazar 
Stephens, Matt. author. Rosenberg, Doug. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4302-2944-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines için kapak resmi
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Yazar 
Drechsler, Rolf. author. Eggersglüβ, Stephan. author. Fey, Görschwin. author. Tille, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Software Testing Automation Testability Evaluation, Refactoring, Test Data Generation and Fault Localization için kapak resmi
Software Testing Automation Testability Evaluation, Refactoring, Test Data Generation and Fault Localization
Yazar 
Parsa, Saeed. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(520377.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-22057-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach için kapak resmi
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Yazar 
Li, Xiaowei. author. Yan, Guihai. author. Liu, Cheng. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(520291.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-8551-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Prenatal Diagnostic Testing for Genetic Disorders The revolution of the Non-Invasive Prenatal Test için kapak resmi
Prenatal Diagnostic Testing for Genetic Disorders The revolution of the Non-Invasive Prenatal Test
Yazar 
Di Renzo, Gian Carlo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(521852.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-31758-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approach için kapak resmi
Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approach
Yazar 
Larner, A. J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-17562-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç