Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
19 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Yazar 
Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11785705
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces için kapak resmi
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces
Yazar 
Kaupp, Gerd. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Mono-Cycle Photonics and Optical Scanning Tunneling Microscopy Route to Femtosecond Ångstrom Technology için kapak resmi
Mono-Cycle Photonics and Optical Scanning Tunneling Microscopy Route to Femtosecond Ångstrom Technology
Yazar 
Yamashita, Mikio. editor. Shigekawa, Hidemi. editor. Morita, Ryuji. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138671
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: