Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(16)
Electronic books.
(15)
TECHNOLOGY & ENGINEERING -- Electronics -- General.
(6)
Ingénierie des systèmes.
(3)
Systems engineering
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Automatic detection of irony : opinion mining in microblogs and social media için kapak resmi
Automatic detection of irony : opinion mining in microblogs and social media
Yazar 
Karoui, Jihen, author. Benamara, Farah, author. Moriceau, Véronique, author.
Yer Numarası 
QA76.9 .N38
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119671183
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Practical creativity and innovation in systems engineering için kapak resmi
Practical creativity and innovation in systems engineering
Yazar 
Engel, Avner, author.
Yer Numarası 
T49.5 .E525 2018
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119383369
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Emergent behavior in complex systems engineering : a modeling and simulation approach için kapak resmi
Emergent behavior in complex systems engineering : a modeling and simulation approach
Yazar 
Mittal, Saurabh, editor. Diallo, Saikou Y., editor. Tolk, Andreas, editor.
Yer Numarası 
TA168 .E53 2018
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119378952
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Modern electromagnetic scattering theory with applications için kapak resmi
Modern electromagnetic scattering theory with applications
Yazar 
Osipov, Andrey (Andrey V.), author. Tretyakov, Sergei, author.
Yer Numarası 
QC665 .S3 .O85 2017 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119004639
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment için kapak resmi
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment
Yazar 
Modarres, M. (Mohammad), author. Amiri, Mehdi, author. Jackson, Christopher, 1979- author.
Yer Numarası 
TA169.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388692
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
High Permittivity Gate Dielectric Materials için kapak resmi
High Permittivity Gate Dielectric Materials
Yazar 
Kar, Samares. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334228.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-36535-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: