Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer aided design.
(15)
Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design.
(14)
Circuits and Systems.
(5)
Engineering design.
(5)
Systems engineering.
(5)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Preventive Biomechanics Optimizing Support Systems for the Human Body in the Lying and Sitting Position için kapak resmi
Preventive Biomechanics Optimizing Support Systems for the Human Body in the Lying and Sitting Position
Yazar 
Silber, Gerhard. author. Then, Christophe. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333216.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29003-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
From Multiscale Modeling to Meso-Science A Chemical Engineering Perspective için kapak resmi
From Multiscale Modeling to Meso-Science A Chemical Engineering Perspective
Yazar 
Li, Jinghai. author. Ge, Wei. author. Wang, Wei. author. Yang, Ning. author. Liu, Xinhua. author.
Yer Numarası 
ONLINE(333946.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35189-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
ICoRD'13 Global Product Development için kapak resmi
ICoRD'13 Global Product Development
Yazar 
Chakrabarti, Amaresh. editor. Prakash, Raghu V. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335496.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-81-322-1050-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Adaptable Embedded Systems için kapak resmi
Adaptable Embedded Systems
Yazar 
Beck, Antonio Carlos Schneider. editor. Lang Lisbôa, Carlos Arthur. editor. Carro, Luigi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331281.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1746-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield için kapak resmi
Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield
Yazar 
Abu-Rahma, Mohamed H. author. Anis, Mohab. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331282.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1749-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Bio/CMOS Interfaces and Co-Design için kapak resmi
Bio/CMOS Interfaces and Co-Design
Yazar 
Carrara, Sandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331564.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4690-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: