Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
14 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Digital integrated circuits : a design perspective için kapak resmi
Digital integrated circuits : a design perspective
Yazar 
Rabaey, Jan M.
Yer Numarası 
TK 7874.65 R33 1996
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: