Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(31)
Yadav, Sanjay. editor.
(3)
Astakhov, Viktor P., author.
(2)
Collège français de métrologie.
(2)
Gåsvik, Kjell J.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(15)
Electronic books.
(8)
Engineering.
(8)
Nanotechnology.
(7)
Machinery.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
94 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Characterization, testing, measurement, and metrology için kapak resmi
Characterization, testing, measurement, and metrology
Yazar 
Prakash, Chander, editor. Singh, Sunpreet, 1989- editor. Davim, J. Paulo, editor.
Yer Numarası 
TA410 .C457 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429298073
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Handbook of optical dimensional metrology için kapak resmi
Handbook of optical dimensional metrology
Yazar 
Harding, Kevin G.
Yer Numarası 
T50 .H268 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Semiconductor strain metrology principles and applications için kapak resmi
Semiconductor strain metrology principles and applications
Yazar 
Wong, Terence K. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Instrumentation and metrology in oceanography için kapak resmi
Instrumentation and metrology in oceanography
Yazar 
Le Menn, Marc.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118561959
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy1303/2012025490-t.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10684971
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Optical imaging and metrology advanced technologies için kapak resmi
Optical imaging and metrology advanced technologies
Yazar 
Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology için kapak resmi
Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology
Yazar 
Zhao, Yaoyao (Fiona). author. Brown, Robert. author. Kramer, Thomas R. author. Xu, Xun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2167-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Springer Handbook of Metrology and Testing için kapak resmi
Springer Handbook of Metrology and Testing
Yazar 
Czichos, Horst. editor. Saito, Tetsuya. editor. Smith, Leslie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16641-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Computational Surface and Roundness Metrology için kapak resmi
Computational Surface and Roundness Metrology
Yazar 
Muralikrishnan, Bala. author. Raja, Jay. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-297-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar 
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- author. Tanner, B. K. (Brian Keith)
Yer Numarası 
TK7874.58 .B69 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Handbook of silicon semiconductor metrology için kapak resmi
Handbook of silicon semiconductor metrology
Yazar 
Diebold, A. C. (Alain C.)
Yer Numarası 
TK7871.85 .H3337 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions için kapak resmi
Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions
Yazar 
Silvani, Xavier. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332373.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7962-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç