Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
19 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Microelectronics için kapak resmi
Microelectronics
Yazar 
Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası 
TK7874 .M4587 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
The electronics handbook için kapak resmi
The electronics handbook
Yazar 
Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası 
TK7867 .E4244 2005
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Advanced semiconductor memories architectures, designs, and applications için kapak resmi
Advanced semiconductor memories architectures, designs, and applications
Yazar 
Sharma, Ashok K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265562
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Memory, microprocessor, and ASIC için kapak resmi
Memory, microprocessor, and ASIC
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7895 .M4 V57 2003
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Opto-mechatronic systems handbook : techniques and applications için kapak resmi
Opto-mechatronic systems handbook : techniques and applications
Yazar 
Cho, Hyung Suck.
Yer Numarası 
TJ163.12 .O66 2003
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Nonvolatile semiconductor memory technology a comprehensive guide to understanding and to using NVSM devices için kapak resmi
Nonvolatile semiconductor memory technology a comprehensive guide to understanding and to using NVSM devices
Yazar 
Brown, William D., 1943- Brewer, Joe (Joe E.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263122
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Semiconductor memories technology, testing, and reliability için kapak resmi
Semiconductor memories technology, testing, and reliability
Yazar 
Sharma, Ashok K. IEEE Solid-State Circuits Council.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: