Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(195)
Göbel, Holger. author.
(6)
Chu, Pong P., 1959-
(5)
Vassiliadis, Stamatis. editor.
(5)
Ashenden, Peter J.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer hardware.
(179)
Computer science.
(92)
Engineering.
(63)
Software engineering.
(53)
Electronics.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
299 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
241. 
Digital Signal Processing with Field Programmable Gate Arrays için kapak resmi
Digital Signal Processing with Field Programmable Gate Arrays
Yazar 
Meyer-Baese, Uwe. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72613-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
242. 
Applications of Evolutionary Computing EvoWorkshops 2007: EvoCoMnet, EvoFIN, EvoIASP,EvoINTERACTION, EvoMUSART, EvoSTOC and EvoTransLog. Proceedings için kapak resmi
Applications of Evolutionary Computing EvoWorkshops 2007: EvoCoMnet, EvoFIN, EvoIASP,EvoINTERACTION, EvoMUSART, EvoSTOC and EvoTransLog. Proceedings
Yazar 
Giacobini, Mario. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71805-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
243. 
Advanced Parallel Processing Technologies 7th International Symposium, APPT 2007 Guangzhou, China, November 22-23, 2007 Proceedings için kapak resmi
Advanced Parallel Processing Technologies 7th International Symposium, APPT 2007 Guangzhou, China, November 22-23, 2007 Proceedings
Yazar 
Xu, Ming. editor. Zhan, Yinwei. editor. Cao, Jiannong. editor. Liu, Yijun. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-76837-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
244. 
Systemverilog for Verification A Guide to Learning the Testbench Language Features için kapak resmi
Systemverilog for Verification A Guide to Learning the Testbench Language Features
Yazar 
Spear, Chris. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
245. 
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation için kapak resmi
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation
Yazar 
Bertacco, Valeria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29906-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
246. 
Applications of Specification and Design Languages for SoCs Selected papers from FDL 2005 için kapak resmi
Applications of Specification and Design Languages for SoCs Selected papers from FDL 2005
Yazar 
Vachoux, A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-4998-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
247. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
248. 
Embedded Computer Systems: Architectures, Modeling, and Simulation 6th International Workshop, SAMOS 2006, Samos, Greece, July 17-20, 2006. Proceedings için kapak resmi
Embedded Computer Systems: Architectures, Modeling, and Simulation 6th International Workshop, SAMOS 2006, Samos, Greece, July 17-20, 2006. Proceedings
Yazar 
Vassiliadis, Stamatis. editor. Wong, Stephan. editor. Hämäläinen, Timo D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11796435
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
249. 
Rechneraufbau und Rechnerarchitektur için kapak resmi
Rechneraufbau und Rechnerarchitektur
Yazar 
Böttcher, Axel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-44731-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
250. 
Leakage in Nanometer CMOS Technologies için kapak resmi
Leakage in Nanometer CMOS Technologies
Yazar 
Narendra, Siva G. author. Chandrakasan, Anantha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28133-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
251. 
Fully-Depleted SOI CMOS Circuits and Technology for Ultralow-Power Applications için kapak resmi
Fully-Depleted SOI CMOS Circuits and Technology for Ultralow-Power Applications
Yazar 
Sakurai, Takayasu. author. Matsuzawa, Akira. author. Douseki, Takakuni. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29218-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
252. 
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies için kapak resmi
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Yazar 
Elgamel, Mohamed A. author. Bayoumi, Magdy A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29366-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç