Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(195)
Göbel, Holger. author.
(6)
Chu, Pong P., 1959-
(5)
Vassiliadis, Stamatis. editor.
(5)
Ashenden, Peter J.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer hardware.
(179)
Computer science.
(92)
Engineering.
(63)
Software engineering.
(53)
Electronics.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
299 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
241. 
Digitaltechnik Ein Lehr- und Übungsbuch için kapak resmi
Digitaltechnik Ein Lehr- und Übungsbuch
Yazar 
Woitowitz, Roland. author. Urbanski, Klaus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73673-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
242. 
Ultra-Low Voltage Nano-Scale Memories için kapak resmi
Ultra-Low Voltage Nano-Scale Memories
Yazar 
Itoh, Kiyoo. editor. Horiguchi, Masashi. editor. Tanaka, Hitoshi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68853-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
243. 
Test und Verlässlichkeit von Rechnern için kapak resmi
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Yazar 
Kemnitz, Günter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
244. 
Systemverilog for Verification A Guide to Learning the Testbench Language Features için kapak resmi
Systemverilog for Verification A Guide to Learning the Testbench Language Features
Yazar 
Spear, Chris. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
245. 
Leakage in Nanometer CMOS Technologies için kapak resmi
Leakage in Nanometer CMOS Technologies
Yazar 
Narendra, Siva G. author. Chandrakasan, Anantha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28133-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
246. 
Fully-Depleted SOI CMOS Circuits and Technology for Ultralow-Power Applications için kapak resmi
Fully-Depleted SOI CMOS Circuits and Technology for Ultralow-Power Applications
Yazar 
Sakurai, Takayasu. author. Matsuzawa, Akira. author. Douseki, Takakuni. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29218-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
247. 
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies için kapak resmi
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Yazar 
Elgamel, Mohamed A. author. Bayoumi, Magdy A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29366-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
248. 
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation için kapak resmi
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation
Yazar 
Bertacco, Valeria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29906-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
249. 
Evolvable Hardware için kapak resmi
Evolvable Hardware
Yazar 
Higuchi, Tetsuya. editor. Liu, Yong. editor. Yao, Xin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-31238-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
250. 
Software-Implemented Hardware Fault Tolerance için kapak resmi
Software-Implemented Hardware Fault Tolerance
Yazar 
Goloubeva, Olga. author. Rebaudengo, Maurizio. author. Reorda, Matteo Sonza. author. Violante, Massimo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32937-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
251. 
Knowledge Enterprise: Intelligent Strategies in Product Design, Manufacturing, and Management Proceedings of PROLAMAT 2006, IFIP TC5 International Conference, June 15–17, 2006, Shanghai, China için kapak resmi
Knowledge Enterprise: Intelligent Strategies in Product Design, Manufacturing, and Management Proceedings of PROLAMAT 2006, IFIP TC5 International Conference, June 15–17, 2006, Shanghai, China
Yazar 
Wang, Kesheng. editor. Kovacs, George L. editor. Wozny, Michael. editor. Fang, Minglun. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34403-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
252. 
SystemVerilog for Design A Guide to Using SystemVerilog for Hardware Design and Modeling için kapak resmi
SystemVerilog for Design A Guide to Using SystemVerilog for Hardware Design and Modeling
Yazar 
Sutherland, Stuart. author. Davidmann, Simon. author. Flake, Peter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-36495-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç