Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(369)
Wiley InterScience (Online service)
(27)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
(9)
John Wiley & Sons.
(8)
Nakagawa, Toshio. author.
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
System safety.
(148)
Engineering.
(136)
Reliability (Engineering)
(82)
Reliability.
(75)
Industrial safety.
(64)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
729 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
277. 
Tutorial on hardware and software reliability, maintainability, and availability için kapak resmi
Tutorial on hardware and software reliability, maintainability, and availability
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769540
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769540
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
278. 
Reliability in Automotive and Mechanical Engineering Determination of Component and System Reliability için kapak resmi
Reliability in Automotive and Mechanical Engineering Determination of Component and System Reliability
Yazar 
Bertsche, Bernd. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34282-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
279. 
Developments in Telecommunications With a Focus on SS7 Network Reliability için kapak resmi
Developments in Telecommunications With a Focus on SS7 Network Reliability
Yazar 
Rufa, Gerhard. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74986-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
280. 
Computer Safety, Reliability, and Security 27th International Conference, SAFECOMP 2008 Newcastle upon Tyne, UK, September 22-25, 2008 Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security 27th International Conference, SAFECOMP 2008 Newcastle upon Tyne, UK, September 22-25, 2008 Proceedings
Yazar 
Harrison, Michael D. editor. Sujan, Mark-Alexander. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-87698-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
281. 
Mathematical methods in survival analysis, reliability and quality of life için kapak resmi
Mathematical methods in survival analysis, reliability and quality of life
Yazar 
Huber, Catherine.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477625
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470610985
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0806/2007046232-b.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
282. 
Reliability technology, human error, and quality in health care için kapak resmi
Reliability technology, human error, and quality in health care
Yazar 
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
283. 
Lubrication and maintenance of industrial machinery best practices and reliability için kapak resmi
Lubrication and maintenance of industrial machinery best practices and reliability
Yazar 
Gresham, Robert M. Totten, George E.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
284. 
Next Generation Wireless LANs Throughput, Robustness, and Reliability in 802.11n için kapak resmi
Next Generation Wireless LANs Throughput, Robustness, and Reliability in 802.11n
Yazar 
Perahia, Eldad. Stacey, Robert.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
285. 
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis için kapak resmi
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis
Yazar 
Limnios, Nikolaos. author. Barbu, Vlad Stefan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-73173-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
286. 
Engineering design reliability applications for the aerospace, automotive, and ship industries için kapak resmi
Engineering design reliability applications for the aerospace, automotive, and ship industries
Yazar 
Nikolaidis, Efstratios. Ghiocel, Dan M. Singhal, Suren. CRC Press.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=202483
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
287. 
Micro- and opto-electronic materials and structures : physics, mechanics, design, reliability, packaging için kapak resmi
Micro- and opto-electronic materials and structures : physics, mechanics, design, reliability, packaging
Yazar 
Suhir, Ephraim. Lee, Y. C. Wong, C. P.
Yer Numarası 
TK7874 .M438 2007 V.1
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
288. 
Computer Safety, Reliability, and Security 26th International Conference, SAFECOMP 2007, Nuremberg, Germany, September 18-21, 2007. Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security 26th International Conference, SAFECOMP 2007, Nuremberg, Germany, September 18-21, 2007. Proceedings
Yazar 
Saglietti, Francesca. editor. Oster, Norbert. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-75101-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç