Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(232)
Wiley InterScience (Online service)
(9)
Mukhopadhyay, Subhas Chandra. author.
(5)
Makinwa, Kofi A. A. author.
(4)
Mukhopadhyay, Subhas Chandra. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics.
(201)
Microelectronics.
(147)
Engineering.
(96)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(79)
Electronic circuits.
(68)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
328 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
289. 
Silicon science and advanced micro-device engineering I selected, peer reviewed papers from the 5th International Symposium on Silicon Science and the 1st International Conference on Advanced Micro-Device Engineering (ISSS & AMDE 2009), was held by the International Education and Research Center for Silicon Science and the Advanced Technology Research Center (ATEC), Gunma University on 10 and 11 December 2009 in Kiryu, Japan için kapak resmi
Silicon science and advanced micro-device engineering I selected, peer reviewed papers from the 5th International Symposium on Silicon Science and the 1st International Conference on Advanced Micro-Device Engineering (ISSS & AMDE 2009), was held by the International Education and Research Center for Silicon Science and the Advanced Technology Research Center (ATEC), Gunma University on 10 and 11 December 2009 in Kiryu, Japan
Yazar 
International Symposium on Silicon Science (5th : 2009 : Kiryū-shi, Japan) Hanaizumi, Osamu. Unno, Masafumi. Gunma Daigaku. International Education and Research Center for Silicon Science. Gunma Daigaku. Advanced Technology Research Center.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=553111
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
290. 
3D IC stacking technology için kapak resmi
3D IC stacking technology
Yazar 
Wu, Banqiu. Kumar, Ajay. Ramaswami, Sesh.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
291. 
Digital holography for MEMS and microsystem metrology için kapak resmi
Digital holography for MEMS and microsystem metrology
Yazar 
Asundi, Anand.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119997290
http://lib.myilibrary.com?id=317798
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=697681
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
292. 
Advanced signal integrity for high-speed digital designs için kapak resmi
Advanced signal integrity for high-speed digital designs
Yazar 
Hall, Stephen H. Heck, Howard L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361024
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
293. 
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems için kapak resmi
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems
Yazar 
Mardiguian, Michel.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361037
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
294. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
295. 
Design of cost-efficient interconnect processing units Spidergon STNoC için kapak resmi
Design of cost-efficient interconnect processing units Spidergon STNoC
Yazar 
Coppola, Marcello.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
296. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, Daniel. Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
297. 
Microelectronic applications of chemical mechanical planarization için kapak resmi
Microelectronic applications of chemical mechanical planarization
Yazar 
Li, Yuzhuo. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0742/2007015557-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470180907
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
298. 
Electron beams and microwave vacuum electronics için kapak resmi
Electron beams and microwave vacuum electronics
Yazar 
Tsimring, Shulim E., 1924-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click for information
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/homepage/?isbn=9780470053768
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=275883
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470053763
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470053768
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
299. 
Optical inspection of microsystems için kapak resmi
Optical inspection of microsystems
Yazar 
Osten, Wolfgang.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
300. 
Metamaterials with negative parameters theory, design and microwave applications için kapak resmi
Metamaterials with negative parameters theory, design and microwave applications
Yazar 
Marqués, Ricardo, 1954- Martín, Ferran, 1965- Sorolla, Mario, 1958- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470191736
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç