Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Geddes, Chris D. editor.
(9)
Lakowicz, Joseph R. editor.
(8)
Bhushan, Bharat. editor.
(7)
Rea, Paul M. editor.
(4)
Fuchs, Harald. editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Microscopy.
(85)
Life sciences.
(45)
Surfaces (Physics).
(45)
Nanotechnology.
(43)
Physics.
(36)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
232 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Handbook of Microscopy for Nanotechnology için kapak resmi
Handbook of Microscopy for Nanotechnology
Yazar 
Yao, Nan. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-8006-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29761-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis için kapak resmi
Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis
Yazar 
Pennycook, Stephen J. editor. Nellist, Peter D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Digital Holographic Microscopy Principles, Techniques, and Applications için kapak resmi
Digital Holographic Microscopy Principles, Techniques, and Applications
Yazar 
Kim, Myung K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7793-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Imaging Mass Spectrometry Protocols for Mass Microscopy için kapak resmi
Imaging Mass Spectrometry Protocols for Mass Microscopy
Yazar 
Setou, Mitsutoshi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-4-431-09425-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy için kapak resmi
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
Yazar 
Shimizu, Kenichi. author. Mitani, Tomoaki. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation
Yazar 
Kohl, Helmut. author. Reimer, Ludwig. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-40093-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications için kapak resmi
Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications
Yazar 
Zhou, Weilie. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 1: Instrumentation and Methods için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 1: Instrumentation and Methods
Yazar 
Luysberg, Martina. editor. Tillmann, Karsten. editor. Weirich, Thomas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85156-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science
Yazar 
Richter, Silvia. editor. Schwedt, Alexander. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85226-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets