Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(186)
Wiley InterScience (Online service)
(18)
Geddes, Chris D. editor.
(9)
Lakowicz, Joseph R. editor.
(8)
Amelinckx, S. (Severin)
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Microscopy.
(109)
Nanotechnology.
(50)
Surfaces (Physics).
(45)
Life sciences.
(44)
Physics.
(36)
Materyal Türü
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
380 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Electron microscopy in material science için kapak resmi
Electron microscopy in material science
Yazar 
International School of Electron Microscopy (1970 : Erice, Italy) Valdrè, U. (Ugo), ed. Consiglio nazionale delle ricerche (Italy) Italy. Ministero della pubblica istruzione.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127805849
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Optical nanoscopy and novel microscopy techniques için kapak resmi
Optical nanoscopy and novel microscopy techniques
Yazar 
Xi, Peng, editor.
Yer Numarası 
ONLINE(356522.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Atomic force microscopy in nanobiology için kapak resmi
Atomic force microscopy in nanobiology
Yazar 
Takeyasu, Kunio, 1950- editor.
Yer Numarası 
ONLINE(342731.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Biomedical optical phase microscopy and nanoscopy için kapak resmi
Biomedical optical phase microscopy and nanoscopy
Yazar 
Shaked, Natan T. Zalevsky, Zeev. Satterwhite, Lisa L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780124158719
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Helium Ion Microscopy Principles and Applications için kapak resmi
Helium Ion Microscopy Principles and Applications
Yazar 
Joy, David C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332438.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Scanning probe microscopy for energy research için kapak resmi
Scanning probe microscopy for energy research
Yazar 
Bonnell, Dawn A. Kalinin, Sergei V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=564537
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics için kapak resmi
Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics
Yazar 
Claverie, A. (Alain)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=1117321
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118579022
Safari Books Online http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9781118579053
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118579022
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118579053
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy için kapak resmi
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Yazar 
Vogt, Thomas. editor. Dahmen, Wolfgang. editor. Binev, Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2191-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Molecular manipulation with atomic force microscopy için kapak resmi
Molecular manipulation with atomic force microscopy
Yazar 
Duwez, Anne-Sophie. Willet, Nicolas.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Reflectance Confocal Microscopy for Skin Diseases için kapak resmi
Reflectance Confocal Microscopy for Skin Diseases
Yazar 
Hofmann-Wellenhof, Rainer. editor. Pellacani, Giovanni. editor. Malvehy, Joseph. editor. Soyer, Hans Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-21997-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy için kapak resmi
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy
Yazar 
Brydson, Rik, editor, author.
Yer Numarası 
ONLINE(318971.1)
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=693217
ebrary http://site.ebrary.com/id/10488537
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=509882
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119978848
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy için kapak resmi
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy
Yazar 
Brydson, Rik.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=693217
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119978848
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets