Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Wiley InterScience (Online service)
(31)
Glick, David, ed.
(19)
Deutsche Gesellschaft für Materialkunde.
(11)
Federation of European Materials Societies.
(11)
European Conference on Advanced Materials and Processes (6th : 1999 : Munich, Germany)
(10)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(56)
Biochemistry.
(36)
Chemistry, Analytic.
(36)
Wireless communication systems.
(19)
Electrical and Electronics Engineering.
(14)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
897 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Code design for dependable systems theory and practical applications için kapak resmi
Code design for dependable systems theory and practical applications
Yazar 
Fujiwara, E. (Eiji), 1944- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471792748
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112101007
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
A manager's guide to the design and conduct of clinical trials için kapak resmi
A manager's guide to the design and conduct of clinical trials
Yazar 
Good, Phillip I. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471930911
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112137410
ebrary http://site.ebrary.com/id/10577605
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Environmental biology for engineers and scientists için kapak resmi
Environmental biology for engineers and scientists
Yazar 
Vaccari, David A., 1953- Strom, Peter F. Alleman, James E. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471741795
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/110433451
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Surfactant science and technology için kapak resmi
Surfactant science and technology
Yazar 
Myers, Drew, 1946- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0621/2005007004-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/047174607X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Latent curve models a structural equation perspective için kapak resmi
Latent curve models a structural equation perspective
Yazar 
Bollen, Kenneth A. Curran, Patrick J., 1965- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471746096
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/110433530
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Electric power systems a conceptual introduction için kapak resmi
Electric power systems a conceptual introduction
Yazar 
Meier, Alexandra von. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5238205
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Software measurement and estimation a practical approach için kapak resmi
Software measurement and estimation a practical approach
Yazar 
Laird, Linda M., 1952- Brennan, M. Carol, 1954- IEEE Computer Society. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5988896
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
The cognitive dynamics of computer science cost-effective large scale software development için kapak resmi
The cognitive dynamics of computer science cost-effective large scale software development
Yazar 
De Gyurky, Szabolcs Michael. Tarbell, Mark A. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5201429
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Contamination and ESD control in high technology manufacturing için kapak resmi
Contamination and ESD control in high technology manufacturing
Yazar 
Welker, R. W. Nagarajan, R. (Ramamurthy) Newberg, Carl E. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201423
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Math refresher for scientists and engineers için kapak resmi
Math refresher for scientists and engineers
Yazar 
Fanchi, John R. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5237539
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
FTTX concepts and applications için kapak resmi
FTTX concepts and applications
Yazar 
Keiser, Gerd. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5237822
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Comparative risk assessment concepts, problems and applications için kapak resmi
Comparative risk assessment concepts, problems and applications
Yazar 
Schütz, Holger. Wiedemann, Peter M., 1948- Hennings, Wilfried, 1953- Mertens, Johannes, 1952- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=169598
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç