Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(33)
Birolini, Alessandro. author.
(3)
De Doncker, Rik. author.
(2)
Liu, Yong. author.
(2)
Lutz, Josef. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(17)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(13)
Optical materials.
(12)
System safety.
(11)
Electronic circuits.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
33 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
More-than-Moore Devices and Integration for Semiconductors için kapak resmi
More-than-Moore Devices and Integration for Semiconductors
Yazar 
Iacopi, Francesca. editor. Balestra, Francis. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-21610-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Software Defined Chips Volume II için kapak resmi
Software Defined Chips Volume II
Yazar 
Liu, Leibo. author. Wei, Shaojun. author. Zhu, Jianfeng. author. Deng, Chenchen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-7636-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Wafer-Level Chip-Scale Packaging Analog and Power Semiconductor Applications için kapak resmi
Wafer-Level Chip-Scale Packaging Analog and Power Semiconductor Applications
Yazar 
Qu, Shichun. author. Liu, Yong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1556-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective için kapak resmi
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering için kapak resmi
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering
Yazar 
Sobh, Tarek. editor. Elleithy, Khaled. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06773-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Reliable Design of Electronic Equipment An Engineering Guide için kapak resmi
Reliable Design of Electronic Equipment An Engineering Guide
Yazar 
Natarajan, Dhanasekharan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09111-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes için kapak resmi
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes
Yazar 
Balasinski, Artur. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1761-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: