Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(30)
Elleithy, Khaled. editor.
(2)
Sobh, Tarek. editor.
(2)
Abd Malek, Mohd Fareq. editor.
(1)
Abd. Aziz, Mohamad Zoinol Abidin. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(18)
Engineering.
(11)
Electronic circuits.
(10)
Electronic Circuits and Systems.
(9)
Systems engineering.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
30 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Fundamentals of Lead-Free Solder Interconnect Technology From Microstructures to Reliability için kapak resmi
Fundamentals of Lead-Free Solder Interconnect Technology From Microstructures to Reliability
Yazar 
Lee, Tae-Kyu. author. Bieler, Thomas R. author. Kim, Choong-Un. author. Ma, Hongtao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-9266-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Computational Advancement in Communication Circuits and Systems Proceedings of ICCACCS 2014 için kapak resmi
Computational Advancement in Communication Circuits and Systems Proceedings of ICCACCS 2014
Yazar 
Maharatna, Koushik. editor. Dalapati, Goutam Kumar. editor. Banerjee, P K. editor. Mallick, Amiya Kumar. editor. Mukherjee, Moumita. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-2274-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Languages for Embedded Systems and their Applications Selected Contributions on Specification, Design, and Verification from FDL’08 için kapak resmi
Languages for Embedded Systems and their Applications Selected Contributions on Specification, Design, and Verification from FDL’08
Yazar 
Radetzki, Martin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9714-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: