Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(360)
Wiley InterScience (Online service)
(9)
Mukhopadhyay, Subhas Chandra. author.
(6)
Mukhopadhyay, Subhas Chandra. editor.
(6)
Mason, Alex. editor.
(5)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics.
(324)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(202)
Microelectronics.
(148)
Electronic circuits.
(147)
Engineering.
(97)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
477 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
421. 
Silicon science and advanced micro-device engineering I selected, peer reviewed papers from the 5th International Symposium on Silicon Science and the 1st International Conference on Advanced Micro-Device Engineering (ISSS & AMDE 2009), was held by the International Education and Research Center for Silicon Science and the Advanced Technology Research Center (ATEC), Gunma University on 10 and 11 December 2009 in Kiryu, Japan için kapak resmi
Silicon science and advanced micro-device engineering I selected, peer reviewed papers from the 5th International Symposium on Silicon Science and the 1st International Conference on Advanced Micro-Device Engineering (ISSS & AMDE 2009), was held by the International Education and Research Center for Silicon Science and the Advanced Technology Research Center (ATEC), Gunma University on 10 and 11 December 2009 in Kiryu, Japan
Yazar 
International Symposium on Silicon Science (5th : 2009 : Kiryū-shi, Japan) Hanaizumi, Osamu. Unno, Masafumi. Gunma Daigaku. International Education and Research Center for Silicon Science. Gunma Daigaku. Advanced Technology Research Center.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=553111
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
422. 
3D IC stacking technology için kapak resmi
3D IC stacking technology
Yazar 
Wu, Banqiu. Kumar, Ajay. Ramaswami, Sesh.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
423. 
Digital holography for MEMS and microsystem metrology için kapak resmi
Digital holography for MEMS and microsystem metrology
Yazar 
Asundi, Anand.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119997290
http://lib.myilibrary.com?id=317798
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=697681
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
424. 
Complex and dusty plasmas : from laboratory to space için kapak resmi
Complex and dusty plasmas : from laboratory to space
Yazar 
Fortov, V. E. Morfill, G. E.
Yer Numarası 
QC718.5 .D84 C66 2010
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis http://www.taylorfrancis.com/books/9781420083125
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781420083125
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367802882
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
425. 
Advanced signal integrity for high-speed digital designs için kapak resmi
Advanced signal integrity for high-speed digital designs
Yazar 
Hall, Stephen H. Heck, Howard L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361024
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
426. 
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems için kapak resmi
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems
Yazar 
Mardiguian, Michel.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361037
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
427. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
428. 
Design of cost-efficient interconnect processing units : Spidergon STNoC için kapak resmi
Design of cost-efficient interconnect processing units : Spidergon STNoC
Yazar 
Coppola, Marcello.
Yer Numarası 
TK5105.546 .D47 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
429. 
Networks-on-Chips : Theory and Practice için kapak resmi
Networks-on-Chips : Theory and Practice
Yazar 
El-Kharashi, Mohamed Watheq, editor. Elmiligi, Haytham, editor. Gebali, Fayez, editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK5105.546
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
430. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, D. M. (Dan M.) Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
TK7871 .D44 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
431. 
Microelectronic applications of chemical mechanical planarization için kapak resmi
Microelectronic applications of chemical mechanical planarization
Yazar 
Li, Yuzhuo. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0742/2007015557-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470180907
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
432. 
Digital systems and applications için kapak resmi
Digital systems and applications
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası 
TK7885 .D56 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç