Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(73)
Ao, Sio-Iong. editor.
(2)
Diniz, Paulo S. R. author.
(2)
Spear, Chris. author.
(2)
Aarts, Ronald M. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(68)
Systems engineering.
(62)
Electronics.
(27)
Computer aided design.
(16)
Telecommunication.
(13)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
75 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
The Designer's Guide to Jitter in Ring Oscillators için kapak resmi
The Designer's Guide to Jitter in Ring Oscillators
Yazar 
Ricketts, David. author. McNeill, John A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76528-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
High Speed Serdes Devices and Applications için kapak resmi
High Speed Serdes Devices and Applications
Yazar 
Rockrohr, James Donald. author. Mohammad, Amanullah. author. Ogilvie, Clarence Rosser. author. Dramstad, Kent. author. Sorna, Michael A. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-79834-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Embedded Memories for Nano-Scale VLSIs için kapak resmi
Embedded Memories for Nano-Scale VLSIs
Yazar 
Zhang, Kevin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-88497-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Clocking in Modern VLSI Systems için kapak resmi
Clocking in Modern VLSI Systems
Yazar 
Xanthopoulos, Thucydides. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0261-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Multicore Processors and Systems için kapak resmi
Multicore Processors and Systems
Yazar 
Keckler, Stephen W. editor. Olukotun, Kunle. editor. Hofstee, H. Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0263-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Silicon Devices and Process Integration Deep Submicron and Nano-Scale Technologies için kapak resmi
Silicon Devices and Process Integration Deep Submicron and Nano-Scale Technologies
Yazar 
El-Kareh, Badih. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69010-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Model Predictive Control System Design and Implementation Using MATLAB® için kapak resmi
Model Predictive Control System Design and Implementation Using MATLAB®
Yazar 
Wang, Liuping. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-331-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Inductive Powering Basic Theory and Application to Biomedical Systems için kapak resmi
Inductive Powering Basic Theory and Application to Biomedical Systems
Yazar 
Schuylenbergh, Koenraad. editor. Puers, Robert. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2412-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Power Distribution Networks with On-Chip Decoupling Capacitors için kapak resmi
Power Distribution Networks with On-Chip Decoupling Capacitors
Yazar 
Popovich, Mikhhail. author. Mezhiba, Andrey V. author. Friedman, Eby G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71601-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Rapid Prototyping of Digital Systems için kapak resmi
Rapid Prototyping of Digital Systems
Yazar 
Hamblen, James O. author. Hall, Tyson S. author. Furman, Michael D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-72671-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests için kapak resmi
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Ahmed, Nisar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets