Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(19)
Collège français de métrologie.
(2)
Gåsvik, Kjell J.
(2)
John Wiley & Sons.
(2)
Leach, R. K.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(8)
Metrology.
(8)
Electronic books.
(7)
Nanotechnology.
(5)
Optical measurements.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
60 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks için kapak resmi
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks
Yazar 
Hebra, Alexius J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science için kapak resmi
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
Yazar 
Pavese, Franco. editor. Forbes, Alistair B. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4804-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology için kapak resmi
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. Kujawinska, Malgorzata. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03051-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science Metrology from pH Measurement to Nuclear Waste Disposal için kapak resmi
Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science Metrology from pH Measurement to Nuclear Waste Disposal
Yazar 
Meinrath, G. author. Schneider, Petra. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71273-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology için kapak resmi
Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology
Yazar 
Engen, Glenn F.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBEL009E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Handbook of surface and nanometrology için kapak resmi
Handbook of surface and nanometrology
Yazar 
Whitehouse, D. J. (David J.) Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Handbook of surface and nanometrology için kapak resmi
Handbook of surface and nanometrology
Yazar 
Whitehouse, D. J. (David J.) Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Clinical and Laboratory Medicine Textbook için kapak resmi
Clinical and Laboratory Medicine Textbook
Yazar 
Ciaccio, Marcello. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(522249.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-24958-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings için kapak resmi
Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings
Yazar 
Paredes, Roberto. editor. Cardoso, Jaime S. editor. Pardo, Xosé M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(519035.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19390-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications için kapak resmi
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications
Yazar 
Liu, Zheng. editor. Ukida, Hiroyuki. editor. Ramuhalli, Pradeep. editor. Niel, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(518392.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4471-6741-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings için kapak resmi
Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings
Yazar 
Kryszkiewicz, Marzena. editor. Bandyopadhyay, Sanghamitra. editor. Rybinski, Henryk. editor. Pal, Sankar K. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(519185.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19941-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Optical devices in ophthalmology and optometry technology, design principles and clinical applications için kapak resmi
Optical devices in ophthalmology and optometry technology, design principles and clinical applications
Yazar 
Donnerhacke, Karl-Heinz. Rill, Michael Stefan. Kaschke, Michael F.
Yer Numarası 
ONLINE(342196.1)
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648962
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç