Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(40)
Nanda, Satyasai Jagannath. editor. (orcid)0000-0002-4005-5589
(8)
Gandomi, Amir H. editor.
(6)
Saraswat, Mukesh. editor.
(6)
Yadav, Rajendra Prasad. editor.
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
2024
(19)
2025
(19)
2023
(2)
Konu
Cyber-Physical Systems.
(40)
Computational intelligence.
(23)
Internet of things.
(19)
Artificial intelligence.
(16)
Communications Engineering, Networks.
(10)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
40 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Proceedings of the Third International Conference on Innovations in Computing Research (ICR'24) için kapak resmi
Proceedings of the Third International Conference on Innovations in Computing Research (ICR'24)
Yazar 
Daimi, Kevin. editor. (orcid)0009-0006-7649-9161 Al Sadoon, Abeer. editor. (orcid)0000-0002-2309-3540 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-65522-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Cryptography and Embedded Systems Security için kapak resmi
Cryptography and Embedded Systems Security
Yazar 
Hou, Xiaolu. author. Breier, Jakub. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-62205-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Data Protection The Wake of AI and Machine Learning için kapak resmi
Data Protection The Wake of AI and Machine Learning
Yazar 
Hewage, Chaminda. editor. (orcid)0000-0001-7593-6661 Yasakethu, Lasith. editor. (orcid)0000-0002-9571-6866 Jayakody, Dushantha Nalin K. editor. (orcid)0000-0002-7004-2930 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-76473-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Advances in Technical Diagnostics II Proceedings of the 7th International Congress on Technical Diagnostics, ICTD 2022, 14-16 September 2022, Radom, Poland için kapak resmi
Advances in Technical Diagnostics II Proceedings of the 7th International Congress on Technical Diagnostics, ICTD 2022, 14-16 September 2022, Radom, Poland
Yazar 
Puchalski, Andrzej. editor. Łazarz, Bogusław Edward. editor. Chaari, Fakher. editor. Komorska, Iwona. editor. Zimroz, Radoslaw. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-31719-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: