Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(182)
Le, Tao.
(12)
Dulan, Steven W.
(10)
Advantage Education (Firm)
(9)
Graduate Record Examinations Board.
(8)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Test-taking skills.
(103)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(50)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(35)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(34)
Advanced placement programs (Education) -- Examinations -- Study guides.
(32)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
735 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
VMware certified professional test prep için kapak resmi
VMware certified professional test prep
Yazar 
Ilgenfritz, Merle. Ilgenfritz, John. Powell, John Wesley, 1834-1902 Baca, Steven.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Statistical theories of mental test scores için kapak resmi
Statistical theories of mental test scores
Yazar 
Lord, Frederic M. Novick, Melvin R. Birnbaum, Allan.
Yer Numarası 
BF431 L59 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Fundamentals of Pap Test Cytology için kapak resmi
Fundamentals of Pap Test Cytology
Yazar 
Hoda, Rana S. author. Hoda, Syed A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-59745-276-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Test and Analysis of Web Services için kapak resmi
Test and Analysis of Web Services
Yazar 
Baresi, Luciano. editor. Nitto, Elisabetta Di. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Linear Models for Optimal Test Design için kapak resmi
Linear Models for Optimal Test Design
Yazar 
Linden, Wim J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29054-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
The Kernel method of test equating için kapak resmi
The Kernel method of test equating
Yazar 
Davier, Alina A. von. Holland, Paul W. Thayer, Dorothy T.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=107930
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
MCAT success 2004 : test prep için kapak resmi
MCAT success 2004 : test prep
Yazar 
Bosworth, Stefan.
Yer Numarası 
W 18.2 M4768 2004
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
45. 
Demystifying mixed-signal test methods için kapak resmi
Demystifying mixed-signal test methods
Yazar 
Baker, Mark.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676168
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Test-driven development : by example için kapak resmi
Test-driven development : by example
Yazar 
Beck, Kent.
Yer Numarası 
QA 76.76.T48 B43 2003
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Defining Shakespeare Pericles as test case için kapak resmi
Defining Shakespeare Pericles as test case
Yazar 
Jackson, MacDonald P. (MacDonald Pairman)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Oxford scholarship online http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780199260508.001.0001
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Test theory a unified treatment için kapak resmi
Test theory a unified treatment
Yazar 
McDonald, Roderick P.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç