Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(224)
Banerjee, Amal. author.
(4)
John Wiley & Sons, publisher.
(4)
Reynaert, Patrick. author.
(4)
Asadi, Farzin. author.
(3)
Dil
English
(365)
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic circuits.
(177)
Electronic books.
(122)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(121)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(100)
Electronic Circuits and Systems.
(78)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
366 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Electronic Noise and Interfering Signals Principles and Applications için kapak resmi
Electronic Noise and Interfering Signals Principles and Applications
Yazar 
Vasilescu, Gabriel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137720
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations için kapak resmi
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Yazar 
Champac, Victor. author. Garcia Gervacio, Jose. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75465-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Flexible Electronics Materials and Applications için kapak resmi
Flexible Electronics Materials and Applications
Yazar 
Salleo, Alberto. editor. Wong, William S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74363-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter için kapak resmi
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter
Yazar 
Maichen, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31419-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting için kapak resmi
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization için kapak resmi
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Yazar 
Larsson, Erik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135763
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits için kapak resmi
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Yazar 
Kabisatpathy, Prithviraj. author. Barua, Alok. author. Sinha, Satyabroto. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135977
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Data Mining and Diagnosing IC Fails için kapak resmi
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Yazar 
Huisman, Leendert M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137446
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç