Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(142)
Wang, Zhiming M. editor.
(8)
Fan, X.J. editor.
(2)
Korkin, Anatoli. editor.
(2)
Li, Handong. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Optical materials.
(142)
Electronics.
(60)
Systems engineering.
(35)
Nanotechnology.
(32)
Optical and Electronic Materials.
(26)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
143 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Molecular Modeling and Multiscaling Issues for Electronic Material Applications için kapak resmi
Molecular Modeling and Multiscaling Issues for Electronic Material Applications
Yazar 
Iwamoto, Nancy. editor. Yuen, Matthew M.F. editor. Fan, Haibo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1728-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics Thermal and Electrical Stability için kapak resmi
Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics Thermal and Electrical Stability
Yazar 
He, Ming. author. Lu, Toh-Ming. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1812-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Nanostructured Materials and Their Applications için kapak resmi
Nanostructured Materials and Their Applications
Yazar 
Logothetidis, Stergios. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22227-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Chalcogenides Metastability and Phase Change Phenomena için kapak resmi
Chalcogenides Metastability and Phase Change Phenomena
Yazar 
Kolobov, Alexander V. author. Tominaga, Junji. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28705-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach için kapak resmi
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Yazar 
Laurila, Tomi. author. Vuorinen, Vesa. author. Paulasto-Kröckel, Mervi. author. Turunen, Markus. author. Mattila, Toni T. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Electroactivity in Polymeric Materials için kapak resmi
Electroactivity in Polymeric Materials
Yazar 
Rasmussen, Lenore. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0878-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Photoelectrochemical Hydrogen Production için kapak resmi
Photoelectrochemical Hydrogen Production
Yazar 
van de Krol, Roel. editor. Grätzel, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1380-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Nanostructured Materials for Engineering Applications için kapak resmi
Nanostructured Materials for Engineering Applications
Yazar 
Bergmann, Carlos Pérez. editor. Andrade, Mônica Jung. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-19131-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Swift Heavy Ions for Materials Engineering and Nanostructuring için kapak resmi
Swift Heavy Ions for Materials Engineering and Nanostructuring
Yazar 
Avasthi, D. K. author. Mehta, G. K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1229-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Introduction to Microsystem Design için kapak resmi
Introduction to Microsystem Design
Yazar 
Schomburg, Werner Karl. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-19489-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç