Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(127)
Korkin, Anatoli. editor.
(3)
Razeghi, Manijeh. author.
(3)
Fan, X.J. editor.
(2)
Grasser, Tibor. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics.
(117)
Engineering.
(65)
Nanotechnology.
(31)
Chemistry.
(30)
Systems engineering.
(23)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
128 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Fundamentals of Nanoscaled Field Effect Transistors için kapak resmi
Fundamentals of Nanoscaled Field Effect Transistors
Yazar 
Chaudhry, Amit. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332128.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6822-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Piezotronics and Piezo-Phototronics için kapak resmi
Piezotronics and Piezo-Phototronics
Yazar 
Wang, Zhong Lin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34237-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Semiconductor Modeling Techniques için kapak resmi
Semiconductor Modeling Techniques
Yazar 
Balkan, Naci. editor. Xavier, Marie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27512-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Electronic Properties of Materials için kapak resmi
Electronic Properties of Materials
Yazar 
Hummel, Rolf E. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8164-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems için kapak resmi
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems
Yazar 
Liu, Johan. author. Salmela, Olli. author. Sarkka, Jussi. author. Morris, James E. author. Tegehall, Per-Erik. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Advanced Materials for Thermal Management of Electronic Packaging için kapak resmi
Advanced Materials for Thermal Management of Electronic Packaging
Yazar 
Tong, Xingcun Colin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7759-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Organische Elektronik in Deutschland Bewertung und Empfehlungen Für Die Weiterentwicklung. için kapak resmi
Organische Elektronik in Deutschland Bewertung und Empfehlungen Für Die Weiterentwicklung.
Yazar 
acatech - Deutsche Akademie der Technikwissenschaften. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20461-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects için kapak resmi
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects
Yazar 
Grossmann, Günter. editor. Zardini, Christian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections için kapak resmi
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Yazar 
Tan, Cher Ming. author. Li, Wei. author. Gan, Zhenghao. author. Hou, Yuejin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Deterministic Solvers for the Boltzmann Transport Equation için kapak resmi
Deterministic Solvers for the Boltzmann Transport Equation
Yazar 
Hong, Sung-Min. author. Pham, Anh-Tuan. author. Jungemann, Christoph. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-0778-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç