Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Wiley InterScience (Online service)
(10)
Ayyub, Bilal M., author.
(4)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947, author.
(4)
Alampalli, Sreenivas.
(2)
Bauer, Eric.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(15)
Engineering design.
(11)
Maintainability (Engineering)
(7)
Risk assessment.
(7)
Quality control.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
87 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Maintaining Mission Critical Systems in a 24/7 Environment için kapak resmi
Maintaining Mission Critical Systems in a 24/7 Environment
Yazar 
Curtis, Peter M., author. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=6047593
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Maintaining mission critical systems in a 24/7 environment için kapak resmi
Maintaining mission critical systems in a 24/7 environment
Yazar 
Curtis, Peter M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5236749
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Plant and machinery failure prevention için kapak resmi
Plant and machinery failure prevention
Yazar 
Hattangadi, A. A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Reliability fundamentals için kapak resmi
Reliability fundamentals
Yazar 
Cătuneanu, Vasile M. Mihalache, Adrian.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444988799
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Quantitative measurements for logistics için kapak resmi
Quantitative measurements for logistics
Yazar 
Frohne, Philip T. SOLE--The International Society of Logistics.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Guidelines for failure modes and effects analysis for medical devices için kapak resmi
Guidelines for failure modes and effects analysis for medical devices
Yazar 
PRESS, DYADEM.
Yer Numarası 
R856.6
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429205804
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Guidelines for Laboratory Quality Auditing için kapak resmi
Guidelines for Laboratory Quality Auditing
Yazar 
Singer, author.
Yer Numarası 
R850 .S564 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Reliability of safety-critical systems : theory and application için kapak resmi
Reliability of safety-critical systems : theory and application
Yazar 
Rausand, Marvin.
Yer Numarası 
ONLINE(341773.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1637653
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118776353
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Probabilistic design for optimization and robustness for engineers için kapak resmi
Probabilistic design for optimization and robustness for engineers
Yazar 
Dodson, Bryan, 1962- author. Hammett, Patrick C., author. Klerx, Rene, author.
Yer Numarası 
ONLINE(341796.1)
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
ebrary http://alltitles.ebrary.com/Doc?id=10896040
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118796245
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118796306
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Reliability of large and complex systems için kapak resmi
Reliability of large and complex systems
Yazar 
Kołowrocki, Krzysztof, author.
Yer Numarası 
ONLINE(355886.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080999494
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Reliability prediction from burn-in data fit to reliability models için kapak resmi
Reliability prediction from burn-in data fit to reliability models
Yazar 
Bernstein, Joseph.
Yer Numarası 
ONLINE(355921.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780128007471
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Designing high availability systems : design for Six Sigma and classical reliability techniques with practical real-life examples için kapak resmi
Designing high availability systems : design for Six Sigma and classical reliability techniques with practical real-life examples
Yazar 
Taylor, Zachary, 1959- Ranganathan, Subramanyam. IEEE Xplore (Online Service), distributor. Wiley, publisher.
Yer Numarası 
ONLINE(365001.1)
Elektronik Erişim 
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6628863
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç