Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(31)
Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
(3)
Yadav, Sanjay. editor.
(3)
Astakhov, Viktor P., author.
(2)
Collège français de métrologie.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(19)
Electronic books.
(18)
Engineering.
(8)
Nanotechnology.
(8)
Machinery.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
118 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard. Pougnet, Philippe. El Hami, Abdelkhalak.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard, author. Pougnet, Philippe, author. El Hami, Abdelkhalak, author.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119818984
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology için kapak resmi
Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology
Yazar 
Sarkar, Tapan (Tapan K.), editor. Salazar-Palma, Magdalena, editor. Zhu, Ming Da, editor. Chen, Heng, 1990- editor.
Yer Numarası 
QC760 .M53 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119076230
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems için kapak resmi
Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems
Yazar 
Diering, Magdalena. editor. Wieczorowski, Michał. editor. Brown, Christopher A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18682-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
The new International System of Units (SI) : quantum metrology and quantum standards için kapak resmi
The new International System of Units (SI) : quantum metrology and quantum standards
Yazar 
Göbel, Ernst O., author. Siegner, Uwe, author.
Yer Numarası 
QC91 .G63 2019
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527814480
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, (Research chemist), editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke (Materials scientist), editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
T174.7
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527800308
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists için kapak resmi
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists
Yazar 
Vosk, Ted, author. Emery, A. F. (Ashley Francis), 1934- author.
Yer Numarası 
HV8073.5 .V67 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications için kapak resmi
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
Yazar 
Servín, Manuel, author. Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio), author. Padilla, J. Moisés (José Moisés), author.
Yer Numarası 
ONLINE(342225.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1701414
ebrary http://site.ebrary.com/id/10881255
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527681075
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=615339
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology için kapak resmi
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis için kapak resmi
Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis
Yazar 
Mark, William D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118357903
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=51229
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements için kapak resmi
Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements
Yazar 
Boutier, A. (Alain)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118576847
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118576847
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç