Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(7)
Wiley InterScience (Online service)
(5)
Allison, Samuel K., ort. yaz.
(1)
Als-Nielsen, J. (Jens), 1937-
(1)
Als-Nielsen, Jens, 1937-
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
X-rays -- Diffraction.
(11)
X- IŞINLARI.
(5)
X-rays.
(5)
Crystallography.
(4)
Electronic books.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
50 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Tunable laser applications için kapak resmi
Tunable laser applications
Yazar 
Duarte, F. J. (Frank J.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Two-dimensional x-ray diffraction için kapak resmi
Two-dimensional x-ray diffraction
Yazar 
He, Bob B., 1954-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=33634
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469502
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470502648
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10346379
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Principles and applications of powder diffraction için kapak resmi
Principles and applications of powder diffraction
Yazar 
Clearfield, Abraham. Reibenspies, Joseph Henry. Bhuvanesh, Nattamai. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781444305487
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
X-ray diffraction by polycrystalline materials için kapak resmi
X-ray diffraction by polycrystalline materials
Yazar 
Guinebretiere, Rene. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0704/2006037726-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470612408
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Basics of x-ray diffraction and its applications /cK. Ramakanth Hebbar. için kapak resmi
Basics of x-ray diffraction and its applications /cK. Ramakanth Hebbar.
Yazar 
Hebbar, K. Ramakanth.
Yer Numarası 
QC482.D5 H43 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
42. 
X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar 
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- Tanner, B. K. (Brian Keith)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Accelerator x-ray sources için kapak resmi
Accelerator x-ray sources
Yazar 
Talman, Richard, 1934-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=482329
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527610303
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Chemically speaking a dictionary of quotations için kapak resmi
Chemically speaking a dictionary of quotations
Yazar 
Gaither, Carl C., 1944- Cavazos-Gaither, Alma E., 1955-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Elements of modern X-ray physics için kapak resmi
Elements of modern X-ray physics
Yazar 
Als-Nielsen, Jens, 1937- McMorrow, Des, ort. yaz.
Yer Numarası 
QC 481 A47 2001
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites için kapak resmi
Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites
Yazar 
Treacy, M. M. J. (Michael M. J.) Higgins, John B. Treacy, M. M. J. (Michael M. J.). Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites. International Zeolite Association. Structure Commission.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444507020
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Industrial applications of X-ray diffraction için kapak resmi
Industrial applications of X-ray diffraction
Yazar 
Chung, Frank H., 1930- Smith, Deane K. (Deane Kingsley)
Yer Numarası 
TA417.25 I52 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Methods of X-ray and neutron scattering in polymer science için kapak resmi
Methods of X-ray and neutron scattering in polymer science
Yazar 
Roe, R. J. (Ryong-Joon)
Yer Numarası 
QD139.P6 R64 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç