Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(437)
Wang, Zhiming M. editor.
(9)
Wiley InterScience (Online service)
(6)
Korkin, Anatoli. editor.
(4)
Demchenko, Alexander P. editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Optical materials.
(442)
Engineering.
(143)
Physics.
(135)
Electronics.
(117)
Nanotechnology.
(113)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
548 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
505. 
Force Sensors for Microelectronic Packaging Applications için kapak resmi
Force Sensors for Microelectronic Packaging Applications
Yazar 
Schwizer, Jürg. author. Mayer, Michael. author. Brand, Oliver. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138345
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
506. 
Springer Handbook of Condensed Matter and Materials Data için kapak resmi
Springer Handbook of Condensed Matter and Materials Data
Yazar 
Martienssen, Werner. editor. Warlimont, Hans. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-30437-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
507. 
Magnetism Materials and Applications için kapak resmi
Magnetism Materials and Applications
Yazar 
Trémolet de Lacheisserie, Étienne. editor. Gignoux, Damien. editor. Schlenker, Michel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-23063-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
508. 
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization için kapak resmi
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Yazar 
Larsson, Erik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135763
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
509. 
Transaction Level Modeling with SystemC TLM Concepts and Applications for Embedded Systems için kapak resmi
Transaction Level Modeling with SystemC TLM Concepts and Applications for Embedded Systems
Yazar 
Ghenassia, Frank. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137175
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
510. 
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices için kapak resmi
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
Yazar 
Sikula, Josef. editor. Levinshtein, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-2170-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
511. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
512. 
Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensor, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensors, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Sozopol, Bulgaria 6–17 September 2004 için kapak resmi
Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensor, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensors, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Sozopol, Bulgaria 6–17 September 2004
Yazar 
Vaseashta, A. editor. Dimova-Malinovska, D. editor. Marshall, J. M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3562-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
513. 
Silicon Quantum Integrated Circuits Silicon-Germanium Heterostructure Devices: Basics and Realisations için kapak resmi
Silicon Quantum Integrated Circuits Silicon-Germanium Heterostructure Devices: Basics and Realisations
Yazar 
Kasper, Erich. author. Paul, D.J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137494
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
514. 
High Dielectric Constant Materials VLSI MOSFET Applications için kapak resmi
High Dielectric Constant Materials VLSI MOSFET Applications
Yazar 
Huff, H.R. editor. Gilmer, D.C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137574
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
515. 
Fundamentals of Semiconductors Physics and Materials Properties için kapak resmi
Fundamentals of Semiconductors Physics and Materials Properties
Yazar 
Yu, Peter Y. Cardona, Manuel. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137661
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
516. 
Ambient Intelligence için kapak resmi
Ambient Intelligence
Yazar 
Weber, Werner. editor. Rabaey, Jan M. editor. Aarts, Emile. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138670
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç