Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(53)
Wiley InterScience (Online service)
(7)
American Institute of Chemical Engineers. Center for Chemical Process Safety.
(6)
Bagchi, Debasis, 1954-
(2)
Duffey, R. B. (Romney B.)
(2)
Dil
Konu
System safety.
(41)
Engineering.
(31)
Chemistry.
(11)
Engineering design.
(11)
Engineering economy.
(9)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
122 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
The management of chemical process development in the pharmaceutical industry için kapak resmi
The management of chemical process development in the pharmaceutical industry
Yazar 
Walker, Derek, 1931 June 12- American Institute of Chemical Engineers. Center for Chemical Process Safety. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0814/2007026424-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470259511
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Nuclear legislation : Analytical study : Regulations governing the transport of radioactive materials. için kapak resmi
Nuclear legislation : Analytical study : Regulations governing the transport of radioactive materials.
Yazar 
OECD Nuclear Energy Agency.
Yer Numarası 
K 3670.4 N83 1981
Format: 
Durum 
Hukuk Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Genetic Engineering and the World Trade System World Trade Forum için kapak resmi
Genetic Engineering and the World Trade System World Trade Forum
Yazar 
Wüger, Daniel. Cottier, Thomas.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Coaching youth track & field için kapak resmi
Coaching youth track & field
Yazar 
American Sport Education Program. USA Track & Field. Hershey Company.
Yer Numarası 
GV1060.9 .C63 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
53. 
In the cut Tutku esirleri için kapak resmi
In the cut Tutku esirleri
Yazar 
Parker, Laurie Marie. Kidman, Nicole, 1967- Campion, Jane. Ryan, Meg. Ruffalo, Mark.
Yer Numarası 
PN1995.9.S87 I52 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Job hazard analysis a guide for voluntary compliance and beyond : from hazard to risk : transforming the JHA from a tool to a process için kapak resmi
Job hazard analysis a guide for voluntary compliance and beyond : from hazard to risk : transforming the JHA from a tool to a process
Yazar 
Roughton, James E. Crutchfield, Nathan.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750683463
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Collaborative Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Collaborative Engineering Theory and Practice
Yazar 
Kamrani, Ali K. editor. Nasr, Emad S. Abouel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-47321-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Precision Manufacturing için kapak resmi
Precision Manufacturing
Yazar 
Dornfeld, David. author. Lee, Dae-Eun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68208-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis için kapak resmi
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis
Yazar 
Limnios, Nikolaos. author. Barbu, Vlad Stefan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-73173-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Bayesian Reliability için kapak resmi
Bayesian Reliability
Yazar 
Hamada, Michael S. author. Wilson, Alyson G. author. Reese, C. Shane. author. Martz, Harry F. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-77950-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Resilience of Cities to Terrorist and other Threats Learning from 9/11 and further Research Issues için kapak resmi
Resilience of Cities to Terrorist and other Threats Learning from 9/11 and further Research Issues
Yazar 
Pasman, Hans J. editor. Kirillov, Igor A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8489-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç