Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Geddes, Chris D. editor.
(9)
Lakowicz, Joseph R. editor.
(8)
Bhushan, Bharat. editor.
(6)
Fuchs, Harald. editor.
(3)
Ayache, Jeanne. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Microscopy.
(83)
Surfaces (Physics).
(45)
Life sciences.
(44)
Nanotechnology.
(37)
Physics.
(36)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
186 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science
Yazar 
Williams, David B. author. Carter, C. Barry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis için kapak resmi
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Yazar 
Echlin, Patrick. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-85731-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Synthetic Polymeric Membranes Characterization by Atomic Force Microscopy için kapak resmi
Synthetic Polymeric Membranes Characterization by Atomic Force Microscopy
Yazar 
Khulbe, K. C. author. Feng, C. Y. author. Matsuura, Takeshi. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73994-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Optical Imaging and Microscopy Techniques and Advanced Systems için kapak resmi
Optical Imaging and Microscopy Techniques and Advanced Systems
Yazar 
Török, Peter. author. Kao, Fu-Jen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69565-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Steding’s and Virágh’s Scanning Electron Microscopy Atlas of the Developing Human Heart için kapak resmi
Steding’s and Virágh’s Scanning Electron Microscopy Atlas of the Developing Human Heart
Yazar 
Oostra, Roelof-Jan. author. Steding, Gerd. author. Lamers, Wout H. author. Moorman, Antoon F. M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68272-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Yazar 
Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces için kapak resmi
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces
Yazar 
Kaupp, Gerd. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç