Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(8)
Wiley InterScience (Online service)
(7)
John Wiley & Sons.
(5)
Berova, Nina.
(2)
Bubert, H. (Henning)
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Physics.
(5)
Chemistry, Inorganic.
(3)
Electron spectroscopy.
(3)
Particles (Nuclear physics).
(3)
Surfaces (Physics).
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
53 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Organic matter in the universe için kapak resmi
Organic matter in the universe
Yazar 
Kwok, S. (Sun)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527637034
ebrary http://site.ebrary.com/id/10577673
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Optical techniques for solid-state materials characterization için kapak resmi
Optical techniques for solid-state materials characterization
Yazar 
Prasankumar, Rohit P. Taylor, Antoinette J., 1956-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Surface and thin film analysis a compendium of principles, instrumentation, and applications için kapak resmi
Surface and thin film analysis a compendium of principles, instrumentation, and applications
Yazar 
Friedbacher, Gernot. Bubert, H. (Henning) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Spectrochemical analysis using infrared multichannel detectors için kapak resmi
Spectrochemical analysis using infrared multichannel detectors
Yazar 
Bhargava, Rohit, 1974- Levin, Ira, 1935- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470988541
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0802/2005009290-b.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Surface and thin film analysis principles, instrumentation, applications için kapak resmi
Surface and thin film analysis principles, instrumentation, applications
Yazar 
Bubert, H. (Henning) Jenett, H. (Holger) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527600167
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç