Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(166)
LaMeres, Brock J. author.
(11)
Drechsler, Rolf. author.
(5)
Chakrabarty, Krishnendu. author.
(4)
Bhunia, Swarup. editor.
(3)
Dil
English
(167)
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic circuits.
(166)
Computer architecture.
(112)
Processor Architectures.
(112)
Electronic Circuits and Systems.
(111)
Electronics.
(77)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
167 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test için kapak resmi
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test
Yazar 
Chandrasekharan, Arun. author. Große, Daniel. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
RADIO--Robots in Assisted Living Unobtrusive, Efficient, Reliable and Modular Solutions for Independent Ageing için kapak resmi
RADIO--Robots in Assisted Living Unobtrusive, Efficient, Reliable and Modular Solutions for Independent Ageing
Yazar 
Karkaletsis, Vangelis. editor. Konstantopoulos, Stasinos. editor. Voros, Nikolaos S. editor. Annicchiarico, Roberta. editor. Dagioglou, Maria. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-92330-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Quick Start Guide to Verilog için kapak resmi
Quick Start Guide to Verilog
Yazar 
LaMeres, Brock J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-10552-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Automated Methods in Cryptographic Fault Analysis için kapak resmi
Automated Methods in Cryptographic Fault Analysis
Yazar 
Breier, Jakub. editor. Hou, Xiaolu. editor. Bhasin, Shivam. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-11333-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Modeling and Simulation of Invasive Applications and Architectures için kapak resmi
Modeling and Simulation of Invasive Applications and Architectures
Yazar 
Roloff, Sascha. author. Hannig, Frank. author. Teich, Jürgen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-8387-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Languages, Design Methods, and Tools for Electronic System Design Selected Contributions from FDL 2017 için kapak resmi
Languages, Design Methods, and Tools for Electronic System Design Selected Contributions from FDL 2017
Yazar 
Große, Daniel. editor. Vinco, Sara. editor. Patel, Hiren. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-02215-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Formal Verification of Floating-Point Hardware Design A Mathematical Approach için kapak resmi
Formal Verification of Floating-Point Hardware Design A Mathematical Approach
Yazar 
Russinoff, David M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-95513-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
The Era of Internet of Things Towards a Smart World için kapak resmi
The Era of Internet of Things Towards a Smart World
Yazar 
Mohamed, Khaled Salah. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18133-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Complex Digital Circuits için kapak resmi
Complex Digital Circuits
Yazar 
Deschamps, Jean-Pierre. author. Valderrama, Elena. author. Terés, Lluís. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-12653-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults için kapak resmi
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Yazar 
Mrozek, Ireneusz. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Safe, Autonomous and Intelligent Vehicles için kapak resmi
Safe, Autonomous and Intelligent Vehicles
Yazar 
Yu, Huafeng. editor. Li, Xin. editor. Murray, Richard M. editor. Ramesh, S. editor. Tomlin, Claire J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-97301-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Fundamentals of Computer Architecture and Design için kapak resmi
Fundamentals of Computer Architecture and Design
Yazar 
Bindal, Ahmet. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-00223-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç