Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(369)
Wiley InterScience (Online service)
(27)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
(9)
John Wiley & Sons.
(8)
Nakagawa, Toshio. author.
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
System safety.
(148)
Engineering.
(136)
Reliability (Engineering)
(82)
Reliability.
(75)
Industrial safety.
(64)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
729 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
61. 
Reliability models for engineers and scientists için kapak resmi
Reliability models for engineers and scientists
Yazar 
Kaminskiy, Mark, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
62. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
63. 
Reliability and maintenance networks and systems için kapak resmi
Reliability and maintenance networks and systems
Yazar 
Beichelt, Frank, 1942- Tittmann, Peter.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
64. 
Accelerated reliability and durability testing technology için kapak resmi
Accelerated reliability and durability testing technology
Yazar 
Klyatis, Lev M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
ebrary http://site.ebrary.com/id/10592157
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=693204
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
65. 
Semiconductor process reliability in practice için kapak resmi
Semiconductor process reliability in practice
Yazar 
Gan, Zhenghao. Wong, Waisum. Liou, Juin J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
66. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
67. 
Semiconductor packaging materials interaction and reliability için kapak resmi
Semiconductor packaging materials interaction and reliability
Yazar 
Chen, Andrea. Lo, Randy.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
68. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
69. 
Multistate systems reliability theory with applications için kapak resmi
Multistate systems reliability theory with applications
Yazar 
Natvig, Bent, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470977088
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10469650
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
70. 
Transportation systems reliability and safety için kapak resmi
Transportation systems reliability and safety
Yazar 
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
71. 
Measures of interobserver agreement and reliability için kapak resmi
Measures of interobserver agreement and reliability
Yazar 
Shoukri, M. M. (Mohamed M.) Shoukri, M. M. (Mohamed M.). Measures of interobserver agreement.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
72. 
Functional Analysis Methods for Reliability Models için kapak resmi
Functional Analysis Methods for Reliability Models
Yazar 
Gupur, Geni. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-0348-0101-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç