Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(410)
Chen, Wai-Kai, 1936-
(6)
Drechsler, Rolf. author.
(5)
LaMeres, Brock J. author.
(5)
Baschirotto, Andrea. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic Circuits and Systems.
(194)
Electronics.
(175)
Microprocessors.
(95)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(78)
Microelectronics.
(64)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
471 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
109. 
Harnessing Performance Variability in Embedded and High-performance Many/Multi-core Platforms A Cross-layer Approach için kapak resmi
Harnessing Performance Variability in Embedded and High-performance Many/Multi-core Platforms A Cross-layer Approach
Yazar 
Fornaciari, William. editor. Soudris, Dimitrios. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91962-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
110. 
Theory of Power Matching için kapak resmi
Theory of Power Matching
Yazar 
Ladvánszky, János. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-16631-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
111. 
Transients for Electrical Engineers Elementary Switched-Circuit Analysis in the Time and Laplace Transform Domains (with a touch of MATLAB®) için kapak resmi
Transients for Electrical Engineers Elementary Switched-Circuit Analysis in the Time and Laplace Transform Domains (with a touch of MATLAB®)
Yazar 
Nahin, Paul J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-77598-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
112. 
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults için kapak resmi
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Yazar 
Mrozek, Ireneusz. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
113. 
Digitally Assisted, Fully Integrated, Wideband Transmitters for High-Speed Millimeter-Wave Wireless Communication Links için kapak resmi
Digitally Assisted, Fully Integrated, Wideband Transmitters for High-Speed Millimeter-Wave Wireless Communication Links
Yazar 
del Rio, David. author. Rezola, Ainhoa. author. Sevillano, Juan F. author. Velez, Igone. author. Berenguer, Roc. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-93281-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
114. 
Understanding Error Control Coding için kapak resmi
Understanding Error Control Coding
Yazar 
Sanvicente, Emilio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-05840-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
115. 
Equivalent-Small-Parameter Analysis of DC/DC Switched-Mode Converter için kapak resmi
Equivalent-Small-Parameter Analysis of DC/DC Switched-Mode Converter
Yazar 
Chen, Yanfeng. author. Zhang, Bo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2574-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
116. 
Projected Capacitive Touch A Practical Guide for Engineers için kapak resmi
Projected Capacitive Touch A Practical Guide for Engineers
Yazar 
Gray, Tony. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98392-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
117. 
Light-Emitting Diodes Materials, Processes, Devices and Applications için kapak resmi
Light-Emitting Diodes Materials, Processes, Devices and Applications
Yazar 
Li, Jinmin. editor. Zhang, G. Q. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-99211-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
118. 
Security Policy in System-on-Chip Designs Specification, Implementation and Verification için kapak resmi
Security Policy in System-on-Chip Designs Specification, Implementation and Verification
Yazar 
Ray, Sandip. author. Basak, Abhishek. author. Bhunia, Swarup. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-93464-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
119. 
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling için kapak resmi
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling
Yazar 
McPherson, J. W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-93683-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
120. 
Quick Start Guide to VHDL için kapak resmi
Quick Start Guide to VHDL
Yazar 
LaMeres, Brock J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-04516-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç