Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Information Security and Privacy 28th Australasian Conference, ACISP 2023, Brisbane, QLD, Australia, July 5-7, 2023, Proceedings için kapak resmi
Information Security and Privacy 28th Australasian Conference, ACISP 2023, Brisbane, QLD, Australia, July 5-7, 2023, Proceedings
Yazar 
Simpson, Leonie. editor. Rezazadeh Baee, Mir Ali. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(520995.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-35486-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advances in non-volatile memory and storage technology için kapak resmi
Advances in non-volatile memory and storage technology
Yazar 
Nishi, Yoshio, editor.
Yer Numarası 
ONLINE(355702.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780857098030
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Dynamic RAM technology advancements için kapak resmi
Dynamic RAM technology advancements
Yazar 
Siddiqi, Muzaffer A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Nonvolatile memory design magnetic, resistive, and phase change için kapak resmi
Nonvolatile memory design magnetic, resistive, and phase change
Yazar 
Li, Hai, 1975- Chen, Yiran, 1976-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Floating body cell a novel capacitor-less DRAM cell için kapak resmi
Floating body cell a novel capacitor-less DRAM cell
Yazar 
Ohsawa, Takashi. Hamamoto, Takeshi.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns için kapak resmi
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns
Yazar 
Hamdioui, Said.
Yer Numarası 
TK7895.M4 H34 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: