Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Material characterization using ion beams. Org. by NATO, Aleria, Aug. 29 sept. 12, 1976 için kapak resmi
Material characterization using ion beams. Org. by NATO, Aleria, Aug. 29 sept. 12, 1976
Yazar 
Nato Advanced Study Institude on Material Characterization Using Ion Beams (1976 : Aleria, France). Thomas, J. P., ed. by Cachard, A., ed. by
Yer Numarası 
QC 702.7.B65 N37 1976
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Projected range statistics : semiconductors and related material için kapak resmi
Projected range statistics : semiconductors and related material
Yazar 
Ginbbons, James F. Johnson, William S., ort. yaz. Mylroie, W., ort. yaz.
Yer Numarası 
QC 793.3.E5 G5 1975
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Ion implantation in semiconductors, silicon and germanium için kapak resmi
Ion implantation in semiconductors, silicon and germanium
Yazar 
Mayer, James W., 1930- Eriksson, Lennart, ort. yaz. Davies, John A., ort. yaz.
Yer Numarası 
TK 7871.85 M38 1970
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: