Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing Complex and Embedded Systems için kapak resmi
Testing Complex and Embedded Systems
Yazar 
Pries, Kim H., author. Quigley, Jon M., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Simulation technologies in networking and communications : selecting the best tool for the test için kapak resmi
Simulation technologies in networking and communications : selecting the best tool for the test
Yazar 
Pathan, Al-Sakib Khan, editor. Monowar, Muhammad Mostafa, editor. Khan, Shafiullah, editor.
Yer Numarası 
QA76.9 .C65 S56 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
EDA for IC system design, verification, and testing için kapak resmi
EDA for IC system design, verification, and testing
Yazar 
Lavagno, Luciano, 1959- Martin, Grant (Grant Edmund) Scheffer, Louis Kossuth.
Yer Numarası 
TK7874 .E26 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: