Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advances in applied probability. için kapak resmi
Advances in applied probability.
Yazar 
Applied Probability Trust.
Yer Numarası 
ALFABETİK V.37 2005
Elektronik Erişim 
Elektronik erişim
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~19 ~0
Rafta:
Kopya:
2. 
Multiple imputation for nonresponse in surveys için kapak resmi
Multiple imputation for nonresponse in surveys
Yazar 
Rubin, Donald B. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469854
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316696
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nonlinear statistical models için kapak resmi
Nonlinear statistical models
Yazar 
Gallant, A. Ronald, 1942- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469411
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316719
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/14069052.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Stochastic simulation için kapak resmi
Stochastic simulation
Yazar 
Ripley, Brian D., 1952- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469837
HathiTrust Digital Library Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/13822487.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316726
Safari Books Online http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9780470009604
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9780470009604
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Multiple comparison procedures için kapak resmi
Multiple comparison procedures
Yazar 
Hochberg, Yosef. Tamhane, Ajit C. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316672
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Robust regression and outlier detection için kapak resmi
Robust regression and outlier detection
Yazar 
Rousseeuw, Peter J. Leroy, Annick M. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471725382
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: