Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems için kapak resmi
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems
Yazar 
Sonza Reorda, Matteo. editor. Peng, Zebo. editor. Violante, Massimo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-145-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
High Dielectric Constant Materials VLSI MOSFET Applications için kapak resmi
High Dielectric Constant Materials VLSI MOSFET Applications
Yazar 
Huff, H.R. editor. Gilmer, D.C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137574
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Copper Electrodeposition for Nanofabrication of Electronics Devices için kapak resmi
Copper Electrodeposition for Nanofabrication of Electronics Devices
Yazar 
Kondo, Kazuo. editor. Akolkar, Rohan N. editor. Barkey, Dale P. editor. Yokoi, Masayuki. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-9176-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Lattice engineering technology and applications için kapak resmi
Lattice engineering technology and applications
Yazar 
Wang, Shumin.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: