Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software development failures anatomy of abandoned projects için kapak resmi
Software development failures anatomy of abandoned projects
Yazar 
Ewusi-Mensah, Kweku.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267255
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Testing Complex and Embedded Systems için kapak resmi
Testing Complex and Embedded Systems
Yazar 
Pries, Kim H., author. Quigley, Jon M., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Automated defect prevention best practices in software management için kapak resmi
Automated defect prevention best practices in software management
Yazar 
Huizinga, Dorota. Kolawa, Adam. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5201515
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: