Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniques için kapak resmi
Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniques
Yazar 
Li, Zipeng. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. Ho, Tsung-Yi. author. Lee, Chen-Yi. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-02964-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test için kapak resmi
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test
Yazar 
Chandrasekharan, Arun. author. Große, Daniel. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs için kapak resmi
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Yazar 
Noia, Brandon. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-02378-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
The science of sound recording için kapak resmi
The science of sound recording
Yazar 
Kadis, Jay. Brown, Pat, 1957- Test and measurement.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: