Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
DATA-DRIVEN FAULT DIAGNOSIS a machine learning approach for industrial components. için kapak resmi
DATA-DRIVEN FAULT DIAGNOSIS a machine learning approach for industrial components.
Yazar 
VASHISHTHA, GOVIND.
Yer Numarası 
Q325.5
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003614821
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Machine learning-based fault diagnosis for industrial engineering systems için kapak resmi
Machine learning-based fault diagnosis for industrial engineering systems
Yazar 
Yang, Rui (Professor of computer engineering), author. Zhong, Maiying, author.
Yer Numarası 
TA169.6
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003240754
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Intelligent Control Systems using Computational Intelligence Techniques için kapak resmi
Intelligent Control Systems using Computational Intelligence Techniques
Yazar 
Ruano, A. E., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCE070E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: