Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Repairable systems reliability analysis : a comprehensive framework için kapak resmi
Repairable systems reliability analysis : a comprehensive framework
Yazar 
Rai, Rajiv Nandan, author. Chaturvedi, Sanjay K., author. Bolia, Nomesh, author.
Yer Numarası 
QA402 .R35 2020
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119526582
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Quality Assurance in Research and Development için kapak resmi
Quality Assurance in Research and Development
Yazar 
Roberts, author.
Yer Numarası 
T175.5 R634 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: