Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications için kapak resmi
Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications
Yazar 
Bruma, Alina, editor.
Yer Numarası 
QH212 .S34 S33 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429243011
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar 
Head, A. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780720417579
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: