Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Characterization in silicon processing için kapak resmi
Characterization in silicon processing
Yazar 
Strausser, Yale. Brundle, C. Richard. Evans, Charles A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=501143
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Encyclopedia of materials characterization surfaces, interfaces, thin films için kapak resmi
Encyclopedia of materials characterization surfaces, interfaces, thin films
Yazar 
Brundle, C. R. Evans, Charles A. Wilson, Shaun.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080523606
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
The Cambridge handbook of personality disorders için kapak resmi
The Cambridge handbook of personality disorders
Yazar 
Lejuez, Carl W., editor. Gratz, Kim L., editor.
Yer Numarası 
RC554 .C33 2020
Elektronik Erişim 
https://www.cambridge.org/core/product/identifier/9781108333931/type/BOOK
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Theorising the responsibility to protect için kapak resmi
Theorising the responsibility to protect
Yazar 
Thakur, Ramesh Chandra, 1948- editor. Maley, William, 1957- editor.
Yer Numarası 
JZ6369 .T47 2015
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1017/CBO9781139644518
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Systems engineering tools and methods için kapak resmi
Systems engineering tools and methods
Yazar 
Kamrani, Ali K. Azimi, Maryam.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: