Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Formal Modeling and Analysis of Timed Systems 21st International Conference, FORMATS 2023, Antwerp, Belgium, September 19-21, 2023, Proceedings için kapak resmi
Formal Modeling and Analysis of Timed Systems 21st International Conference, FORMATS 2023, Antwerp, Belgium, September 19-21, 2023, Proceedings
Yazar 
Petrucci, Laure. editor. Sproston, Jeremy. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42626-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Emerging Computing: From Devices to Systems Looking Beyond Moore and Von Neumann için kapak resmi
Emerging Computing: From Devices to Systems Looking Beyond Moore and Von Neumann
Yazar 
Aly, Mohamed M. Sabry. editor. Chattopadhyay, Anupam. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-16-7487-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Digital design and fabrication için kapak resmi
Digital design and fabrication
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası 
TK7885 .D54 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7874.75 .V573 2007
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Microelectronics için kapak resmi
Microelectronics
Yazar 
Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası 
TK7874 .M4587 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Computers, Software Engineering, and Digital Devices için kapak resmi
Computers, Software Engineering, and Digital Devices
Yazar 
Dorf, Richard C., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7885
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Logic testing and design for testability için kapak resmi
Logic testing and design for testability
Yazar 
Fujiwara, Hideo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: