Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns için kapak resmi
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns
Yazar 
Hamdioui, Said.
Yer Numarası 
TK7895.M4 H34 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Thin film magnetoresistive sensors için kapak resmi
Thin film magnetoresistive sensors
Yazar 
Tumanski, Slawomir., author.
Yer Numarası 
TK7872 .T55 T853 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: