Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(6)
Electronic books.
(4)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(4)
Semiconductors.
(3)
Signal processing.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
12 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Core-Shell Nanomaterials From Fundamentals to Applications için kapak resmi
Core-Shell Nanomaterials From Fundamentals to Applications
Yazar 
Sharma, Shreya. Phogat, Peeyush. Thakur, Jahanvi. Singh, N. L.
Yer Numarası 
XX(600416.1)
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527855766
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Interface engineering in organic field-effect transistors için kapak resmi
Interface engineering in organic field-effect transistors
Yazar 
Guo, Xuefeng, author. Chen, Hongliang, author.
Yer Numarası 
QC173.4 .I57 G86 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527840489
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
The profession of modeling and simulation : discipline, ethics, education, vocation, societies, and economics için kapak resmi
The profession of modeling and simulation : discipline, ethics, education, vocation, societies, and economics
Yazar 
Tolk, Andreas, editor. Ören, Tuncer I., editor.
Yer Numarası 
QA10.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119288091
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Sensing Technology: Current Status and Future Trends IV için kapak resmi
Sensing Technology: Current Status and Future Trends IV
Yazar 
Mason, Alex. editor. Mukhopadhyay, Subhas Chandra. editor. Jayasundera, Krishanthi Padmarani. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-12898-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Analysis and Simulation of Electrical and Computer Systems için kapak resmi
Analysis and Simulation of Electrical and Computer Systems
Yazar 
Gołębiowski, Lesław. editor. Mazur, Damian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-11248-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Wearable Electronics Sensors For Safe and Healthy Living için kapak resmi
Wearable Electronics Sensors For Safe and Healthy Living
Yazar 
Mukhopadhyay, Subhas C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-18191-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering için kapak resmi
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering
Yazar 
Sobh, Tarek. editor. Elleithy, Khaled. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06773-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39535-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling için kapak resmi
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling
Yazar 
McPherson, J. W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332682.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00122-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Decreasing Fuel Consumption and Exhaust Gas Emissions in Transportation Sensing, Control and Reduction of Emissions için kapak resmi
Decreasing Fuel Consumption and Exhaust Gas Emissions in Transportation Sensing, Control and Reduction of Emissions
Yazar 
Palocz-Andresen, Michael. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333053.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-11976-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets